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    3506 C测试仪 品牌:日本日置HIOKI 型号:3506 简介:C测试仪3506对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试,能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容,C 、(tanδ), Q项目测试,反复测量精度更高,最适合生产线,校正维修功能,减低由环境的温度变 化影响,测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能,比测仪的设定值和测定值的同步显示。 ...详细>>
    3505 C测试仪 品牌:日本日置HIOKI 型号:3505 简介:C测试仪3505对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试,反复测量精度更高,最适合生产线,C、 (tanδ), Q项目测试,能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容,校正维修功能,减低由环境的 温度变化影响,比测仪的设定值和测定值的同步显示。 ...详细>>
    3504-60 C测试仪 品牌:日本日置HIOKI 型号:3504-60 简介:3504-60 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,高速测量2ms,能根据C和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能,用BIN的分选接 口进行被测物体的测试,查出全机测量中的接触错误,提高成品率。 ...详细>>
    3504-50 C测试仪 品牌:日本日置HIOKI 型号:3504-50 简介:3504-50 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,高速测量2ms,能根据C和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能,用BIN的分选接 口进行被测物体的测试,查出全机测量中的接触错误,提高成品率。 ...详细>>
    3504-40 C测试仪 品牌:日本日置HIOKI 型号:3504-40 简介:3504-40 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,高速测量2ms,能根据C和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能,记录工具,实现 高速/低成本的测试,查出全机测量中的接触错误,提高成品率。 ...详细>>
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