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产品详细信息
 
 
产品名称: 3504-50 C测试仪
品  牌: 日本日置HIOKI
型  号: 3504-50
类  别: 电容表/C测试仪
产品备注: 3504-50 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,高速测量2ms,能根据C和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能,用BIN的分选接 口进行被测物体的测试,查出全机测量中的接触错误,提高成品率。
产品说明

 

一.功能特点
CD 2项目测试
测试源频率: 120Hz, 1kHz              
高速测量: 2ms
RS-232C, GP-IB
能根据C D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
静电容量:最多可分成14类,能简单地根据测量值进行分类
对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
BIN的分选接口进行被测物体的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率
 
:输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件(不
能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)
 
二.技术参数

测量参数
Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围
C:0.9400pF20.0000mF
D:0.000011.99000
基本确度
(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, BEは各系数
测量频率
120Hz, 1kHz
测量信号电平
恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV: 170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: 170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: 70μF 量程 (测量频率 1kHz), 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻
5Ω(开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示
发光二级管6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间
典型值: 2.0 ms 1 kHz, FAST
 
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能
4端子控制检测功能(仅限3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量
条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量
260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件
电源线×1,预备电源保险丝×1

 
 
 
录入时间:2012-07-18 【打印此页】 【关闭