3506 C测试仪
品牌：日本日置HIOKI
型号：3506
简介：C测试仪3506对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试，能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容，C 、(tanδ), Q项目测试，反复测量精度更高，最适合生产线，校正维修功能，减低由环境的温度变
化影响，测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能，比测仪的设定值和测定值的同步显示。
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3505 C测试仪
品牌：日本日置HIOKI
型号：3505
简介：C测试仪3505对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试，反复测量精度更高，最适合生产线，C、
(tanδ), Q项目测试，能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容，校正维修功能，减低由环境的
温度变化影响，比测仪的设定值和测定值的同步显示。
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3504-60 C测试仪
品牌：日本日置HIOKI
型号：3504-60
简介：3504-60 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，高速测量2ms，能根据C和D
（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能，用BIN的分选接
口进行被测物体的测试，查出全机测量中的接触错误，提高成品率。
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3504-50 C测试仪
品牌：日本日置HIOKI
型号：3504-50
简介：3504-50 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，高速测量2ms，能根据C和D
（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能，用BIN的分选接
口进行被测物体的测试，查出全机测量中的接触错误，提高成品率。
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3504-40 C测试仪
品牌：日本日置HIOKI
型号：3504-40
简介：3504-40 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等，高速测量2ms，能根据C和D
（损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断，对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能，记录工具，实现
高速/低成本的测试，查出全机测量中的接触错误，提高成品率。
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