产品列表
数字万用表DT4282
品牌:美国福禄克FLUKE
型号:DT4282
简介:手持式万用表DT4282,具备最高速的响应速度,大幅缩短测量时间。而且由于具备符合最高安全标准CAT IV 600V
的安全性能,使用温度范围广,因此是让用户安全安心使用的产品。直流电压测量的基本精度是0.025%,交流电压
的频带是20~100kHz,作为手持式万用表具备最高的精度和宽频带。
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数字万用表DT4281
品牌:美国福禄克FLUKE
型号:DT4281
简介:手持式万用表DT4281,具备最高速的响应速度,大幅缩短测量时间。而且由于具备符合最高安全标准CAT IV 600V
的安全性能,使用温度范围广,因此是让用户安全安心使用的产品。直流电压测量的基本精度是0.025%,交流电压
的频带是20~100kHz,作为手持式万用表具备最高的精度和宽频带。
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3506 C测试仪
品牌:日本日置HIOKI
型号:3506
简介:C测试仪3506对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试,能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容,C 、(tanδ), Q项目测试,反复测量精度更高,最适合生产线,校正维修功能,减低由环境的温度变
化影响,测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能,比测仪的设定值和测定值的同步显示。
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3505 C测试仪
品牌:日本日置HIOKI
型号:3505
简介:C测试仪3505对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试,反复测量精度更高,最适合生产线,C、
(tanδ), Q项目测试,能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容,校正维修功能,减低由环境的
温度变化影响,比测仪的设定值和测定值的同步显示。
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3504-60 C测试仪
品牌:日本日置HIOKI
型号:3504-60
简介:3504-60 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,高速测量2ms,能根据C和D
(损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能,用BIN的分选接
口进行被测物体的测试,查出全机测量中的接触错误,提高成品率。
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3504-50 C测试仪
品牌:日本日置HIOKI
型号:3504-50
简介:3504-50 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,高速测量2ms,能根据C和D
(损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能,用BIN的分选接
口进行被测物体的测试,查出全机测量中的接触错误,提高成品率。
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3504-40 C测试仪
品牌:日本日置HIOKI
型号:3504-40
简介:3504-40 C测试仪可测量封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等,高速测量2ms,能根据C和D
(损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断,对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能,记录工具,实现
高速/低成本的测试,查出全机测量中的接触错误,提高成品率。
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RM3543/3543-01 电阻计
品牌:日本日置HIOKI
型号:RM3543/3543-01
简介:电阻计RM3543/3543-01是用于测试超低或低并联电阻的电阻计,测量源:DC,最快测量时间:0.9ms,最小积分时间:0.1ms,最高分辨率:0.1μΩ。
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RM3542/3542-01 电阻计
品牌:日本日置HIOKI
型号:RM3542/3542-01
简介:RM354电阻计实现低阻抗(μΩ)到高阻抗(MΩ)的测量,宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计。用于自动化产线的理想的高速电阻计,测量源:DC,最快测量时间:0.9ms,最小积分时间:0.1ms,最高分辨率:0.1μΩ。
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3541电阻计
品牌:日本日置HIOKI
型号:3541
简介:3541电阻计实现低阻抗(μΩ)到高阻抗(MΩ)的测量,宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计。 用于线圈或产线的电阻至高电阻测量,测量源:DC,最短响应时间:几毫秒,采样率: 0.6ms ±0.3ms,最高分辨率:0.1μΩ。
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